LongWD 长工作距探头

LongWD 系列长工作距探头适用于样品需要大空间范围的情况。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。

WideAG 大角度探头

WideAG 大角度探头适用于样品的倾角较大的情况。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可选配4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。

SmallSR 小量程探头

SmallSR 小量程探头适用于样品精度要求高、产品薄、粗糙度测量。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量

GeneGR 通用探头

GeneGR 是一款通用探头,适用于大多数场景。该系列可用精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。

PSC-EXCELSE 高采样型控制器

作为PSC-EXCEL控制器系列中成功的产品,第二代控制器经改进后更加适合如今的工业应用需求。新的高性能电子器件结合高速以太网接口,高强度白光LED和高灵敏度的探测器,使控制器可实现30000次每秒的测量速度和高测量精度。新一代控制器配置了自动光源控制装置,可实现非接触式距离、形貌和厚度的测试,测量具有极高的精度和复现性,甚至在测试环境波动的情况下都相当稳定。