
LongWD 长工作距探头
LongWD 系列长工作距探头适用于样品需要大空间范围的情况。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。
LongWD 系列长工作距探头适用于样品需要大空间范围的情况。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。
WideAG 大角度探头适用于样品的倾角较大的情况。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可选配4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。
SmallSR 小量程探头适用于样品精度要求高、产品薄、粗糙度测量。该系列可用于测量透明样品的厚度和高度,精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量
GeneGR 是一款通用探头,适用于大多数场景。该系列可用精密结构件和柔性材料的法向位移量。该系列的采样频率最高可达4KHz,可实现扫描式测量,得到样品的表面轮廓。可以配置1个测头实现单点测量,也可以配置2个测头实现相对高度测量。